S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology; escrito como SMART) SMART es un sistema para la supervisión y detección temprana de errores en soportes de almacenamiento Flash como las unidades SSD. Dado que la memoria flash NAND es un semiconductor que funciona mediante el movimiento de electrones, la arquitectura de la NAND establece un límite en la resistencia a la escritura. La resistencia a la escritura, y por tanto la vida útil de una SSD, puede estimarse con precisión. La estimación puede realizarse utilizando atributos SMART, que proporcionan varios indicadores del estado y la fiabilidad de la unidad.
La resistencia de las SSD se calcula mediante el total de bytes escritos (TBW) y las escrituras de la unidad por día (DWPD). Las ecuaciones para los dos factores son las siguientes:Bytes totales escritos (TBW) = (Capacidad física x ciclos P/E de la NAND) / (Factor de amplificación de escritura x Factor de nivelación de desgaste)Escrituras de la unidad por día (DWPD) = (Bytes totales escritos en GB/capacidad utilizable en GB) / (Garantía en número de años x 365) Desarrollada específicamente para nuestros productos Flash industriales, SP SMART Toolbox es una aplicación de utilidad intuitiva con una serie de potentes funciones. Esta aplicación proporciona todas las herramientas necesarias para que los usuarios cambien fácilmente la configuración y supervisen eficazmente el estado del producto.
Todas las unidades SSD de SP Industrial con factor de nivelación de desgaste asumido=2 para calcular el TBW y mostrar la salud y el uso a través de SP SMART Toolbox.
SP SMART Toolbox también muestra los detalles de los atributos SMART para su posterior análisis offline.
La versión de línea de comandos de Linux también está disponible a petición del cliente.