S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology; scritto come SMART) SMART è un sistema per il monitoraggio e il rilevamento precoce degli errori sui supporti di memorizzazione Flash come le unità SSD. Poiché la memoria NAND è un semiconduttore che funziona attraverso il movimento degli elettroni, l'architettura della NAND pone un limite alla resistenza alla scrittura. La resistenza alla scrittura, e quindi la durata di un'unità SSD, può essere stimata con precisione. La stima può essere effettuata utilizzando gli attributi SMART, che forniscono vari indicatori della salute e dell'affidabilità dell'unità.
La durata delle unità SSD viene stimata in base ai Byte totali scritti (TBW) e alle Scritture dell'unità al giorno (DWPD). Le equazioni per i due fattori sono le seguenti: Byte totali scritti (TBW) = (Capacità fisica x cicli P/E della NAND) / (Fattore di amplificazione della scrittura x Fattore di livellamento dell'usura) Scritture dell'unità al giorno (DWPD) = (Byte totali scritti in GB/Capacità utilizzabile in GB) / (Garanzia in n. di anni x 365) Sviluppato specificamente per i nostri prodotti Flash industriali, SP SMART Toolbox è un'applicazione di utilità intuitiva con una serie di potenti funzioni. Questa applicazione fornisce tutti gli strumenti necessari agli utenti per modificare facilmente le impostazioni e monitorare in modo efficiente la salute del prodotto.
Tutte le unità SSD di SP Industrial con fattore di assunzione Wear Leveling=2 calcolano il TBW e mostrano lo stato di salute e l'utilizzo tramite SP SMART Toolbox.
SP SMART Toolbox mostra anche i dettagli degli attributi SMART per ulteriori analisi offline.
Su richiesta del cliente è disponibile anche la versione a riga di comando Linux.